本儀器向您提供一套強有力的組合工具，它幫助您快速、高效查找電路板的故障點。

本儀器的基本設計思想是讓技術人員和非技術人員盡量在傻瓜方式下工作：不用拆下IC、不用看電路圖、也不用去了解電路板內部或外部的信號作用，僅僅依據(jù)電路板上IC的型號或編號，用測試夾對IC逐一夾接并自動測試，直到找出損壞的IC或故障點。

本儀器采用了以下四種性能優(yōu)越且相互補充的測試技術，以應付千變萬化的電子線路和疑難問題。利用這些技術，您不僅可以測出IC的功能故障，還可以查找出存在于板上的其它問題，如：總線故障、負載變化、線間短路、多層板間短路、退耦電容失效、開路等。

1在線功能測試（ICFT）

ICFT是對焊在板上的中、小規(guī)模IC的邏輯功能進行的通電測試，測試IC的輸入為預先編制的邏輯電平測試模型。用ICFT測試時，只要鍵入IC的型號，系統(tǒng)測試程序即從器件庫中調出此器件的數(shù)據(jù)文件，并用測試模型來驅動它。而驅動方面采用了安全的“背驅動”技術，有效的隔離了前級電路的互連影響。將器件的輸出響應與庫存的數(shù)據(jù)進行計算或比較后，儀器立即顯示“通過”或“失效”的直觀結果。

測試時需用一支IC夾與被測芯片接觸，為使操作方便，本儀器具有IC夾自動定位特性，即不管正反左右的任意夾接IC夾都能準確無誤的測試IC。

測試前，儀器可顯示測試夾狀態(tài)報告窗口，說明40PIN IC的各腳的狀態(tài)，如接Vcc、接GND、互連、懸浮、高阻、低阻、波動等。

ICFT可先在“快速測試”中進行，以快速篩選板上的大量芯片，快速找出故障IC，而“診斷模式”可將測試模型的電平波形信號逐行顯示，以便進一步分析和判斷故障點。

本儀器配備了豐富的芯片庫，它包括了大量的常用的通用IC，但還提供了專用的程序語言BOTL，使用戶能方便的將最新的芯片擴充到原來的庫中，或建立新庫。

本儀器還具有自動識別器件型號的功能。

上述所有的在線測試方法，也適合離線IC的測試，本儀器提供離線測試板附件，供生產線上大批IC的篩選測試。

2．VI曲線分析

經驗與統(tǒng)計結果告訴我們，器件的功能或性能故障，常常伴隨著器件外端點VI（伏-安）特性的異常。因此測試節(jié)點的動態(tài)阻抗，以圖形曲線顯示、分析、記錄并比較，從而找出異常點，這就是VI曲線分析的基本原理。

“VI曲線”可測試ICFT不能適應的特殊數(shù)字電路、線性電路、模擬電路、分立元件和無源元件（R、L、C等）。

“VI曲線”的方法是對節(jié)點施加一交變電壓V，并測量其電流I；將所得的V-I關系以數(shù)據(jù)文件存儲起來，以供比較和分析。由于測試和比較是成組進行的，每組節(jié)點可多達40個，由此可見“VI曲線”確為一種獨特的故障檢查方法，而這是普通示波器和信號源所無法比擬的。

“VI曲線”包括一個學習模式，當某好板上所有節(jié)點的VI信息被學習儲存后，就可以將該儲存信息與疑問板的各節(jié)點進行比較。在比較中，能發(fā)現(xiàn)故障元件、錯誤值、誤差中的級差及許多示波器無法區(qū)分的細微差別。

創(chuàng)龍BTR4040EX測試儀可測試多達40腳的器件。而以VI分組測試，可測試更多腳數(shù)，如80腳或更多。

3．電流追蹤測試

該測試為技術人員測試電路板上的整體電流提供了便利。它主要用于測試和定位電路板上IC的連接和狀態(tài)方面的故障。例如：PCB導線短路或開路、元件故障、板上IC方向錯誤和位置錯誤等。

短路追蹤可測試電路中IC的自身連接及板上不同IC的直接連接，它允許根據(jù)需要建立多個序列文件，序列文件用于確定被測板上的IC的序列。

對任何一個沒有電路圖的電路板，可借助外加的CAD程序接口，用電路追蹤測試和程序產生原理圖，作為一個選件，可向您提供EE設計者軟件包以產生原理圖。

由電路追蹤程序建立的IC連接數(shù)據(jù)庫可作為文本文件存儲起來。這些文件轉換成EE設計者軟件包所需要的格式，一旦引IC連接數(shù)據(jù)文件被輸入到EE設計者軟件包內，即可產生電路板的原理圖。

將ICFT和電路追蹤結合使用，并建立維修數(shù)據(jù)庫，維修庫中可存放多達數(shù)百塊板的測試數(shù)據(jù)，備份和調用均很方便，這對進行大量的電路板的維修，有著十分重要的意義。

4．LSI器件分析

對于大規(guī)模集成電路（LSI）器件，由于其真值表或時序圖幾無窮盡，不宜用中小規(guī)模IC的一般方法去測試。本儀器提供專門的LSI分析技術，來處理LSI的測試問題。LSI分析的基本原理是：對于一個LSI芯片，可使用戶對它的局部進行適當?shù)牧私夂途唧w應用，然后分步的進行學習和測試，從而解決了LSI器件的實際測試問題。

本儀器的LSI分析測試系統(tǒng)中，使用了以宏匯編為基礎的專用語編寫的程序，它驅動器件的輸入并學習它的響應。在此也包括由眾多標準的LSI器件支持的LSI測試。另外，提供測試矢量產生程序以便自動進行測試。SMIL和LSI編譯程序作為測試儀的一個標準部分提供，以便建立或擴展庫。

LSI分析產生測試被測芯片的信號集合它包括芯片若干個別特性的大量的子測試。LSI測試時儀器驅動器件的輸入并將輸出波形與前好板上學習來的數(shù)據(jù)進行比較。

由于一個LSI測試中能由大量的子測試組成。LSI測試仍需較長時間，LSI測試需要學習在線部件的性能以便成功地進行測試。

5．對用戶的技術要求

本儀器配備了豐富龐大的數(shù)據(jù)庫，并完全在窗口和菜單的人機對話中操作，故只需做很少的指點或培訓，即可較快的掌握使用。對于測試工作量非常大的單位，可由一個技術人員負責技術準備，調試和故障分析的工作，大量的測試操作可交給非技術人員進行。在幫助非技術人員操作本儀器時，儀器本身的自動位特性很有用處。

技術人員應了解基本的DOS命令，具備電子學的基本知識，熟悉Vcc（+5V）、GND（地）、電容、電阻、集電極開路IC、總線、時鐘等最基本的電子電路概念。

為了編寫用戶的IC測試程序，應具有數(shù)字邏輯和布爾邏輯方面的知識，能理解被編IC的內部邏輯圖。當然，還應會使用“文本編輯器”編輯文本文件。但因編寫芯片程序所需的專用語言BOTL全部由本儀器提供，您不必為事先具備專業(yè)編程和經驗。

“LSI”語言是一種宏語言，它需要定義每個IC腳應在何時驅動及在何時學習響應數(shù)據(jù)。為了開發(fā)用戶芯片測試庫，您需要有I/O寄存器操作、芯片邏輯狀態(tài)與時序圖等到方面的知識，這樣才能自如的編制各種子程序，并對LSI芯片的各種特性進行測試和分析。

技術規(guī)格

• 測試范圍：TTL、CMOS、LSI、VLSI、PAL、GAL、PLD、ROM、RAM、DRIVER、I/O、 CPU、ADC、DAC、模擬器件等。
• 雙向邏輯測試/驅動通道：40
• 邏輯驅動電平：LOW：<0.8V；HIGH：>3.5V
• 邏輯驅動電流：（SINK/SOURCE）>240MA
• 邏輯測試閾值： TTL緊 TTL松 CMOS緊 CMOS松
• 低電平 0-0.8V 0-1.3V 0-1.5V 0-2.4V
• 高電平 2-5V 1.5-5V 3.5-5V 2.5-5V
• VI自動測試通：40
• VI掃描電壓：-8V-+8V；-19V-+19V
• VI掃描頻率：48Hz，96Hz，144Hz，390Hz，780Hz，1170Hz
• VI手持探針：手持探針VI測量（VI測試、R和V測量等）裝置，可把本儀器作為萬用表使用。
• 離線IC測試板：40P/20P雙列IC鎖緊插座，電源短路保護。
• 直流電源輸出：5VDC、5A（向被測電路板供電）
• 交流電源輸入：220VAC、90W